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9783540740797 - Applied Scanning Probe Methods VIII: Scanning Probe Microscopy Techniques (NanoScience and Technology) (26 resultados)
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Applied Scanning Probe Methods VIII: Scanning Probe Microscopy Techniques (NanoScience and Technology)
Librería: Broad Street Books, Branchville, NJ, Estados Unidos de America
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Ubiquitous Positioning (Artech House Mobile Communications)
Publicado por Artech House
ISBN 10: 3540740791 ISBN 13: 9783540740797
Librería: WeBuyBooks, Rossendale, LANCS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Applied Scanning Probe Methods Viii: Scanning Probe Microscopy Techniques (Nanoscience And Technology)
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
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Applied Scanning Probe Methods Viii: Scanning Probe Microscopy Techniques (Nanoscience And Technology)
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
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Applied Scanning Probe Methods Viii: Scanning Probe Microscopy Techniques (Nanoscience And Technology)
Librería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de America
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Applied Scanning Probe Methods VIII: Scanning Probe Microscopy Techniques (NanoScience and Technology)
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APPLIED SCANNING PROBE METHODS VIII: SCANNING PROBE MICROSCOPY TECHNIQUES
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Applied Scanning Probe Methods VIII: Scanning Probe Microscopy Techniques (NanoScience and Technology)
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Applied Scanning Probe Methods Viii: Scanning Probe Microscopy Techniques
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
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APPLLIED SCANNING PROBE METHODS VIII
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Appllied Scanning Probe Methods Viii
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Applied Scanning Probe Methods Viii: Scanning Probe Microscopy Techniques
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
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Applied Scanning Probe Methods VIII: Scanning Probe Microscopy Techniques (NanoScience and Technology)
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Applied Scanning Probe Methods VIII: Scanning Probe Microscopy Techniques (NanoScience and Technology)
Librería: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australia
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Applied Scanning Probe Methods VIII: Scanning Probe Microscopy Techniques (NanoScience and Technology)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Applied Scanning Probe Methods VIII: Scanning Probe Microscopy Techniques (NanoScience and Technology)
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
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Applied Scanning Probe Methods VIII : Scanning Probe Microscopy Techniques
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
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Applied Scanning Probe Methods VIII : Scanning Probe Microscopy Techniques
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Applied Scanning Probe Methods VIII
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Jan 2008, 2008
ISBN 10: 3540740791 ISBN 13: 9783540740797
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware -The success of the Springer Series Applied Scanning Probe Methods I¿VII and the rapidly expanding activities in scanning probe development and applications worldwide made it a natural step to collect further speci c results in the elds of development of scanning probe microscopy techniques (Vol. VIII), characterization (Vol. IX), and biomimetics and industrial applications (Vol. X). These three volumes complement the previous set of volumes under the subject topics and give insight into the recent work of leading specialists in their respective elds. Following the tradition of the series, the chapters are arranged around techniques, characterization and biomimetics and industrial applications. Volume VIII focuses on novel scanning probe techniques and the understanding of tip/sample interactions. Topics include near eld imaging, advanced AFM, s- cializedscanningprobemethodsinlifesciencesincludingnewselfsensingcantilever systems, combinations of AFM sensors and scanning electron and ion microscopes, calibration methods, frequency modulation AFM for application in liquids, Kelvin probe force microscopy, scanning capacitance microscopy, and the measurement of electrical transport properties at the nanometer scale. Vol. IX focuses on characterization of material surfaces including structural as well as local mechanical characterization, and molecular systems. The volume covers a broad spectrum of STM/AFM investigations including fullerene layers, force spectroscopy for probing material properties in general, biological lms .and cells, epithelial and endothelial layers, medical related systems such as amyloidal aggregates, phospholipid monolayers, inorganic lms on aluminium and copper - ides,tribological characterization, mechanical properties ofpolymernanostructures,technical polymers, and near eld optics.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 528 pp. Englisch.
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Applied Scanning Probe Methods VIII : Scanning Probe Microscopy Techniques
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2008
ISBN 10: 3540740791 ISBN 13: 9783540740797
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The success of the Springer Series Applied Scanning Probe Methods I-VII and the rapidly expanding activities in scanning probe development and applications worldwide made it a natural step to collect further speci c results in the elds of development of scanning probe microscopy techniques (Vol. VIII), characterization (Vol. IX), and biomimetics and industrial applications (Vol. X). These three volumes complement the previous set of volumes under the subject topics and give insight into the recent work of leading specialists in their respective elds. Following the tradition of the series, the chapters are arranged around techniques, characterization and biomimetics and industrial applications. Volume VIII focuses on novel scanning probe techniques and the understanding of tip/sample interactions. Topics include near eld imaging, advanced AFM, s- cializedscanningprobemethodsinlifesciencesincludingnewselfsensingcantilever systems, combinations of AFM sensors and scanning electron and ion microscopes, calibration methods, frequency modulation AFM for application in liquids, Kelvin probe force microscopy, scanning capacitance microscopy, and the measurement of electrical transport properties at the nanometer scale. Vol. IX focuses on characterization of material surfaces including structural as well as local mechanical characterization, and molecular systems. The volume covers a broad spectrum of STM/AFM investigations including fullerene layers, force spectroscopy for probing material properties in general, biological lms .and cells, epithelial and endothelial layers, medical related systems such as amyloidal aggregates, phospholipid monolayers, inorganic lms on aluminium and copper - ides,tribological characterization, mechanical properties ofpolymernanostructures,technical polymers, and near eld optics.
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Applied Scanning Probe Methods VIII: Scanning Probe Microscopy Techniques
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
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Edición internacionalAPPLIED SCANNING PROBE METHODS VIII SCANNING PROBE MICROSCOPY TECHNIQUES (HB 2008)
Librería: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Reino Unido
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Edición internacional
APPLIED SCANNING PROBE METHODS VIII: SCANNING PROBE MICROSCOPY TECHNIQUES (NANOSCIENCE AND TECHNOLOGY)
Librería: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Applied Scanning Probe Methods VIII
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2008
ISBN 10: 3540740791 ISBN 13: 9783540740797
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. First book summarizing the state-of-the-art of this techniqueReal industrial applications includedThe volumes VIII, IX and X examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. This is.
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Applied Scanning Probe Methods VIII
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg Jan 2008, 2008
ISBN 10: 3540740791 ISBN 13: 9783540740797
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The volumes VIII, IX and X examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. This is the first book to summarize the state-of-the-art of this technique. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM applications. 528 pp. Englisch.
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Applied Scanning Probe Methods VIII | Scanning Probe Microscopy Techniques
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
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EUR 137,65
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Applied Scanning Probe Methods VIII | Scanning Probe Microscopy Techniques | Bharat Bhushan (u. a.) | Buch | lix | Englisch | 2008 | Springer-Verlag GmbH | EAN 9783540740797 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
