9783540738855 - transmission electron microscopy and diffractometry of materials de fultz, brent; howe, james (7 resultados)
- Tapa dura
Librería: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, AlemaniaAntiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasMiembro de asociación: GIAQ
Condición: Usado - Como Nuevo
EUR 23,20
Envío por EUR 25,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardcover. Condición: Wie neu. 778 S., Like new. Shrink wrapped. / Wie neu. In Folie verschweißt. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1355 3rd corrected Ed. 2008, corr. 2nd printing 2009.
- Tapa dura
Librería: Studibuch, Stuttgart, AlemaniaStudibuch
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 9,90
Envío por EUR 62,30Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
hardcover. Condición: Gut. 778 Seiten; 9783540738855.3 Gewicht in Gramm: 2.
- Tapa dura
Librería: Studibuch, Stuttgart, AlemaniaStudibuch
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Aceptable
EUR 9,90
Envío por EUR 62,30Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
hardcover. Condición: Befriedigend. 778 Seiten; 9783540738855.4 Gewicht in Gramm: 2.
- Tapa dura
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de AmericaHPB-Red
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Aceptable
EUR 102,62
Envío por EUR 3,22Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
hardcover. Condición: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority.
- Tapa dura
Librería: brandnewtexts4sale, Houston, TX, Estados Unidos de Americabrandnewtexts4sale
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 132,51
Envío por EUR 6,00Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardcover. Condición: New. 3rd Edition. 100% BRAND NEW US HARDCOVER STUDENT 3rd Edition / shrink wrapped / Mint condition / ISBN-10: 3540738851 / Shipped out in one business day with free tracking.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009, 2008
- Tapa dura
Librería: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, AlemaniaBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 99,00
Envío por EUR 39,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardcover. Condición: gut. This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that ar…e important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. In englischer Sprache. 758 pages. 3,3 x 16 x 23,3 cm Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009.
- Tapa dura
Librería: Solr Books, Lincolnwood, IL, Estados Unidos de AmericaSolr Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 883,69
Envío por EUR 6,85Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: very_good. This book is in Very good condition. There may be a few flaws like shelf wear and some light wear.
