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9783540115151 - Experimental Aspects (Vol 2) (Point Defects in Semiconductors) (2 resultados)
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Experimental aspects. Springer series in solid-state sciences; 35.
Idioma: Inglés
Publicado por Berlin [u.a.], Springer, 1983
ISBN 10: 3540115153 ISBN 13: 9783540115151
Librería: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoHardcover. XVI, 295 Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. C-05849 3540115153 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects: Volume 2 ( # 35 Springer Series in Solid-State Sciences)
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Verlag Berlin, 1983
ISBN 10: 3540115153 ISBN 13: 9783540115151
Librería: The Spoken Word, Oxfordshire, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. No Jacket. 1st Edition. Published by Springer-verlag Berlin in 1983, here is the first hardback printing of J.Bourgoin and M.Lannoo's Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects (Stringer Series in Solid-State Sciences #35). Paper covered brown boards, white/orange spine and front cover lettering, 295 illustrated pages the book is in very good condition with the sticker of a previous owner, eminent Physicist Dr A.M.Stoneham applied to the top of the front free end paper and some very light rubbing to the edges of the boards.
