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9781461421900 - Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy (Nanostructure Science and Technology) (13 resultados)
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Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy (Nanostructure Science and Technology)
Libro 25 de 60: Nanostructure Science and TechnologyLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 115,52
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Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
Libro 25 de 60: Nanostructure Science and TechnologyLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 133,95
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 194.
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Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
Libro 25 de 60: Nanostructure Science and TechnologyLibrería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 92,27
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
Libro 25 de 60: Nanostructure Science and TechnologyLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 151,94
Envío por EUR 11,58
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 2012 edition. 280 pages. 9.25x6.00x0.50 inches. In Stock.
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Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
Libro 25 de 60: Nanostructure Science and TechnologyIdioma: Inglés
Publicado por Springer New York, Springer US, 2012
ISBN 10: 146142190X ISBN 13: 9781461421900
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 111,53
Envío por EUR 62,30
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing. ; Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing.
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Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
Libro 25 de 60: Nanostructure Science and TechnologyLibrería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 83,44
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Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing.
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Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy (Nanostructure Science and Technology)
Libro 25 de 60: Nanostructure Science and TechnologyLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 184,81
Envío por EUR 28,94
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy (eng)
Libro 25 de 60: Nanostructure Science and TechnologyLibrería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 3 de 5 estrellas
EUR 86,24
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Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: new. Questo è un articolo print on demand.
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Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
Libro 25 de 60: Nanostructure Science and TechnologyIdioma: Inglés
Publicado por Springer New York Mrz 2012, 2012
ISBN 10: 146142190X ISBN 13: 9781461421900
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing 192 pp. Englisch.
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Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
Libro 25 de 60: Nanostructure Science and TechnologyLibrería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 147,06
Envío por EUR 7,52
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 194 80 Illus. (32 Col.).
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Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
Libro 25 de 60: Nanostructure Science and TechnologyLibrería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 148,30
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 194.
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Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
Libro 25 de 60: Nanostructure Science and TechnologyLibrería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 95,70
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy | Thomas Vogt (u. a.) | Buch | Nanostructure Science and Technology | ix | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461421900 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
Libro 25 de 60: Nanostructure Science and TechnologyIdioma: Inglés
Publicado por Springer, Springer Mär 2012, 2012
ISBN 10: 146142190X ISBN 13: 9781461421900
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 192 pp. Englisch.
