ISBN: 9781441938374 - physical principles of electron microscopy: an introduction to tem, sem, and aem (3 resultados)

- Tapa blanda
Librería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de AmericaThriftBooks-Atlanta
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 66,47
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Paperback. Condición: As New. No Jacket. Pages are clean and are not marred by notes or folds of any kind. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.

- Tapa blanda
Librería: Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, Estados Unidos de AmericaGoodwill of Silicon Valley
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado - Aceptable
EUR 66,47
Envío por EUR 3,58Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Condición: good. Supports Goodwill of Silicon Valley job training programs. The cover and pages are in Good condition! Any other included accessories are also in Good condition showing use. Use can include some highlighting and writing, page and cover creases as well as other types visible wear.

- Tapa blanda
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 190,11
Envío por EUR 29,96Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
paperback. Condición: Very Good. Very Good. Dust Jacket may NOT BE INCLUDED.CDs may be missing. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.