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9781119417583 - An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES de Watts, John F.; Wolstenholme, John (16 resultados)
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An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 75,17
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
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Introduction to Surface Analysis by XPS and AES
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 78,94
Envío por EUR 2,31
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 7 disponibles
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Introduction to Surface Analysis by XPS and AES
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 81,11
Envío por EUR 2,31
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 7 disponibles
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An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 74,75
Envío por EUR 6,80
Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 84,64
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 77,30
Envío por EUR 14,09
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Introduction to Surface Analysis by XPS and AES
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 75,16
Envío por EUR 17,64
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Introduction to Surface Analysis by XPS and AES
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 81,47
Envío por EUR 17,64
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES, 2nd Edition
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 96,39
Envío por EUR 7,64
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 94,73
Envío por EUR 10,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. 2019. 2nd. Hardcover. . . . . .
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An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES, 2nd Edition
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 113,08
Envío por EUR 3,49
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 120,02
Envío por EUR 9,18
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. 2019. 2nd. Hardcover. . . . . . Books ship from the US and Ireland.
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An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 85,06
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. John F. Watts FREng is Professor of Materials Science in the Department of Mechanical Engineering Sciences at the University of Surrey. He currently leads a Research Group applying surface analysis methods to investigations in materials science and is Edito.
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An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 115,37
Envío por EUR 62,97
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - Provides a concise yet comprehensive introduction to XPS and AES techniques in surface analysisThis accessible second edition of the bestselling book, An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES, 2nd Edition explores the basic principles and applications of X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) and Auger Electron Spectroscopy (AES) techniques. It starts with an examination of the basic concepts of electron spectroscopy and electron spectrometer design, followed by a qualitative and quantitative interpretation of the electron spectrum.Chapters examine recent innovations in instrument design and key applications in metallurgy, biomaterials, and electronics. Practical and concise, it includes compositional depth profiling; multi-technique analysis; and everything about samples--including their handling, preparation, stability, and more. Topics discussed in more depth include peak fitting, energy loss background analysis, multi-technique analysis, and multi-technique profiling. The book finishes with chapters on applications of electron spectroscopy in materials science and the comparison of XPS and AES with other analytical techniques.\* Extensively revised and updated with new material on NAPXPS, twin anode monochromators, gas cluster ion sources, valence band spectra, hydrogen detection, and quantification\* Explores key spectroscopic techniques in surface analysis\* Provides descriptions of latest instruments and techniques\* Includes a detailed glossary of key surface analysis terms\* Features an extensive bibliography of key references and additional reading\* Uses a non-theoretical style to appeal to industrial surface analysis sectorsAn Introduction to Surface Analysis by XPS and AES, 2nd Edition is an excellent introductory text for undergraduates, first-year postgraduates, and industrial users of XPS and AES.
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An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES 2e
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 103,39
Envío por EUR 14,70
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 2nd edition. 288 pages. 9.00x6.00x0.75 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES (Hardcover)
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley & Sons Inc, New York, 2019
ISBN 10: 1119417589 ISBN 13: 9781119417583
Librería: CitiRetail, Stevenage, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 84,15
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Añadir al carritoHardcover. Condición: new. Hardcover. Provides a concise yet comprehensive introduction to XPS and AES techniques in surface analysis This accessible second edition of the bestselling book, An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES, 2nd Edition explores the basic principles and applications of X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) and Auger Electron Spectroscopy (AES) techniques. It starts with an examination of the basic concepts of electron spectroscopy and electron spectrometer design, followed by a qualitative and quantitative interpretation of the electron spectrum. Chapters examine recent innovations in instrument design and key applications in metallurgy, biomaterials, and electronics. Practical and concise, it includes compositional depth profiling; multi-technique analysis; and everything about samplesincluding their handling, preparation, stability, and more. Topics discussed in more depth include peak fitting, energy loss background analysis, multi-technique analysis, and multi-technique profiling. The book finishes with chapters on applications of electron spectroscopy in materials science and the comparison of XPS and AES with other analytical techniques. Extensively revised and updated with new material on NAPXPS, twin anode monochromators, gas cluster ion sources, valence band spectra, hydrogen detection, and quantificationExplores key spectroscopic techniques in surface analysisProvides descriptions of latest instruments and techniquesIncludes a detailed glossary of key surface analysis termsFeatures an extensive bibliography of key references and additional readingUses a non-theoretical style to appeal to industrial surface analysis sectors An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES, 2nd Edition is an excellent introductory text for undergraduates, first-year postgraduates, and industrial users of XPS and AES. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
