Importe total (1 artículo artículos):
Destino del pedido:
9780878498680 - Scanning Probe Microscopies: Volume 14 (Materials Science Foundations, Volume 14) de De Stefanis, A.; Tomlinson, A.A.G. (2 resultados)
Ir a los resultados principales
Filtros de búsqueda
Tipo de artículo
- Todos los tipos de productos
- Libros (2)
- Revistas y publicaciones (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Cómics (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Partituras (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Arte, grabados y pósters (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Fotografías (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Mapas (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Manuscritos y coleccionismo de papel (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
Condición Más información
- Nuevo (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Como nuevo, Excelente o Muy bueno (2)
- Bueno o Aceptable (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Regular o Pobre (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Tal como se indica (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
Encuadernación
- Todas
- Tapa dura (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Tapa blanda (2)
Más atributos
- Primera edición (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Firmado (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Sobrecubierta (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Con imágenes (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- No impresión bajo demanda (2)
Idioma (1)
Gastos de envío gratis
- Envío gratis a Estados Unidos de America (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
Ubicación del vendedor
Valoración de los vendedores
-
Scanning Probe Microscopies: From Surface Structure to Nano-scale-Engineerung (Materials Science Foundations).
Librería: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Alemania
Miembro de asociación: GIAQ
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 4,64
Envío por EUR 15,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Wie neu. 102 S., Like new. Shrink wrapped. / Wie neu. In Folie verschweißt. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 315.
-
Scanning Probe Microscopies: From Surfaces Structure to Nano-Scale Engineering (Materials Science Foundations)
Idioma: Inglés
Publicado por Trans Tech Publications, Ltd., 2001
ISBN 10: 0878498680 ISBN 13: 9780878498680
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 182,91
Envío por EUR 29,02
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
