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9780470016084 - Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications de Fujiwara, Hiroyuki (16 resultados)
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Spectroscopic Ellipsometry
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 183,18
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
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Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 3 de 5 estrellas
EUR 182,49
Envío por EUR 6,80
Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: new.
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Spectroscopic Ellipsometry : Principles and Applications
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 193,34
Envío por EUR 2,27
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Añadir al carritoCondición: New.
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Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 193,25
Envío por EUR 3,23
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Spectroscopic Ellipsometry : Principles and Applications
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 183,17
Envío por EUR 17,35
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Spectroscopic Ellipsometry : Principles and Applications
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 200,32
Envío por EUR 2,27
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Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Spectroscopic Ellipsometry : Principles and Applications
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 201,66
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Spectroscopic Ellipsometry
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley and Sons Inc, US, 2007
ISBN 10: 0470016086 ISBN 13: 9780470016084
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 233,59
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. 1st. Ellipsometry is a powerful tool used for the characterization of thin films and multi-layer semiconductor structures. This book deals with fundamental principles and applications of spectroscopic ellipsometry (SE). Beginning with an overview of SE technologies the text moves on to focus on the data analysis of results obtained from SE, Fundamental data analyses, principles and physical backgrounds and the various materials used in different fields from LSI industry to biotechnology are described. The final chapter describes the latest developments of real-time monitoring and process control which have attracted significant attention in various scientific and industrial fields.
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Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 237,32
Envío por EUR 10,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. 2007. 1st Edition. Hardcover. Ellipsometry is a powerful tool used for the characterization of thin films and multi-layer semiconductor structures. This book deals with fundamental principles and applications of spectroscopic ellipsometry (SE). Num Pages: 388 pages, Illustrations. BIC Classification: PHJ. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 157 x 26. Weight in Grams: 762. . . . . .
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Spectroscopic Ellipsometry
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 206,24
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Ellipsometry is a powerful tool used for the characterization of thin films and multi-layer semiconductor structures. This book deals with fundamental principles and applications of spectroscopic ellipsometry (SE).Über den Autor.
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Spectroscopic Ellipsometry
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley and Sons Inc, US, 2007
ISBN 10: 0470016086 ISBN 13: 9780470016084
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 221,63
Envío por EUR 75,18
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Añadir al carritoHardback. Condición: New. 1st. Ellipsometry is a powerful tool used for the characterization of thin films and multi-layer semiconductor structures. This book deals with fundamental principles and applications of spectroscopic ellipsometry (SE). Beginning with an overview of SE technologies the text moves on to focus on the data analysis of results obtained from SE, Fundamental data analyses, principles and physical backgrounds and the various materials used in different fields from LSI industry to biotechnology are described. The final chapter describes the latest developments of real-time monitoring and process control which have attracted significant attention in various scientific and industrial fields.
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Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 298,17
Envío por EUR 9,04
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. 2007. 1st Edition. Hardcover. Ellipsometry is a powerful tool used for the characterization of thin films and multi-layer semiconductor structures. This book deals with fundamental principles and applications of spectroscopic ellipsometry (SE). Num Pages: 388 pages, Illustrations. BIC Classification: PHJ. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 157 x 26. Weight in Grams: 762. . . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Spectroscopic Ellipsometry : Principles and Applications
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 254,41
Envío por EUR 63,94
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - Spectroscopic ellipsometry has established its position as a high-precision optical-characterization technique -- nevertheless, the principles of ellipsometry are often said to be difficult, partly due to the lack of proper knowledge for polarized light used as a probe in ellipsometry. The objective of this book is to provide a fundamental understanding of spectroscopic ellipsometry particularly for researchers who are not familiar with the ellipsometry technique. Although some aspects of the technique are complicated, the understanding is not essentially difficult, if one comprehends the principles in order. Based on this point of view, this highly-illustrated book provides general descriptions for measurement and data analysis methods employed widely in spectroscopic ellipsometry.
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Spectroscopic Ellipsometry Principles and Applications
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 327,23
Envío por EUR 14,46
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 392 pages. 9.25x6.25x1.00 inches. In Stock.
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Spectroscopic Ellipsometry (Hardcover)
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley & Sons Inc, New York, 2007
ISBN 10: 0470016086 ISBN 13: 9780470016084
Librería: CitiRetail, Stevenage, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición Impresión bajo demanda
EUR 200,71
Envío por EUR 42,79
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: new. Hardcover. Ellipsometry is a powerful tool used for the characterization of thin films and multi-layer semiconductor structures. This book deals with fundamental principles and applications of spectroscopic ellipsometry (SE). Beginning with an overview of SE technologies the text moves on to focus on the data analysis of results obtained from SE, Fundamental data analyses, principles and physical backgrounds and the various materials used in different fields from LSI industry to biotechnology are described. The final chapter describes the latest developments of real-time monitoring and process control which have attracted significant attention in various scientific and industrial fields. Ellipsometry is a powerful tool used for the characterization of thin films and multi-layer semiconductor structures. This book deals with fundamental principles and applications of spectroscopic ellipsometry (SE). This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
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Spectroscopic Ellipsometry Principles and Applications
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 263,15
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 392 pages. 9.25x6.25x1.00 inches. In Stock. This item is printed on demand.
