9780444884299 - defect control in semiconductors: international congress proceedings (3 resultados)

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    • Idioma: Inglés

      Editorial: North-Holland, Amsterdam / New York / Oxford / Tokyo, 1990

      0444884297 / 9780444884299

      • Tapa dura
      • Primera edición

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      Hardcover. Condición: New. Estado de la sobrecubierta: No dust jackets, as issued. First Editions. Amsterdam / New York / Oxford / Tokyo: North-Holland, 1990. New and unread. NOT a library discard. Complete in 2 huge volumes. Volume 1: xxviii, 972pp, xliv (author/subject index). Volume 2: xxvii, pp. 975 - 1,746, xxix-xliv (repea

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      gebundene Ausgabe. Condición: Gut. 1746 Seiten; durchgehende Zählung; Der Erhaltungszustand des hier angebotenen Werks ist trotz seiner Bibliotheksnutzung sehr sauber. Es befindet sich neben dem Rückenschild lediglich ein Bibliotheksstempel im Buch; ordnungsgemäß entwidmet. In ENGLISCHER Sprache. KOMPLETTPREIS für 2 Bände; bei V

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      Condición: gut. 1990. Defect Control in Semiconductors: Proceedings of the International Conference on the Science and Technology of Defect Control in Semiconductors The Yokohama 21st Century Forum Yokohama, Japan, September 17-22, 1989 (2 vols.set/ 2 Bände KOMPLETT) In englischer Sprache. pages.