ISBN: 9780387945415 - quantitative x-ray diffractometry (2 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Verlag, 1995
- Tapa dura
Librería: Librairie Parrêsia, Figeac, FranciaLibrairie Parrêsia
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EUR 59,92
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Dec 06, 1995. Condición: Used: Good. Quantitative X-Ray Diffractometry | Zevin - Kimmel | Springer Verlag New-York Berlin, 1995, in-8° cartonnage éditeur de 372 pages. Couverture propre. Dos solide. Intérieur frais sans soulignage ou annotation. Exemplaire de bibliothèque : petit code barre en pied de 1re de couv., cotation au dos, rares et discrets petits tampons à l'intérieur de l'ouvrage. Très bon état général pour cet ouvrage. [T12].…
Idioma: Inglés
Editorial: New York, Springer, 1995
- Tapa dura
Librería: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, AlemaniaAntiquariat Bookfarm
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EUR 59,80
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Hardcover. Condición: Gut. XVII, 372 S. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. Ex-library in GOOD condition with library-signature and stamp(s). Some traces of use. R-16139 9780387945415 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
