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9780387857305 - Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis de Echlin, Patrick (23 resultados)
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Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: Better World Books, Mishawaka, IN, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: Good. Former library copy. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 135,85
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Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 138,78
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Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 141,16
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Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 114,42
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Añadir al carritoCondición: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,950grams, ISBN:9780387857305.
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Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 135,83
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Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 142,69
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Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 157,23
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HANDBOOK OF SAMPLE PREPARATION FOR SCANN
Librería: Speedyhen, Hertfordshire, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 158,22
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Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Idioma: Inglés
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., US, 2009
ISBN 10: 0387857303 ISBN 13: 9780387857305
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 182,30
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Añadir al carritoHardback. Condición: New. 2009 ed.
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Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 156,31
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Añadir al carritoCondición: New. Identifies problems that all specimens present in examining their structure and analysis in the SEMDescribes a series of protocols to ensure that a specimen is properly prepared once the particular problems are identifiedGuides the reader t.
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Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Idioma: Inglés
Publicado por Springer US, Copernicus, 2009
ISBN 10: 0387857303 ISBN 13: 9780387857305
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 166,35
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Scanning electr on microscopy (SEM) and x-ray microanalysis can produce magnified images and in situ chemical information from virtually any type of specimen. The two instruments generally operate in a high vacuum and a very dry environment in order to produce the high energy beam of electrons needed for imaging and analysis. With a few notable exceptions, most specimens destined for study in the SEM are poor conductors and composed of beam sensitive light elements containing variable amounts of water. In the SEM, the imaging system depends on the specimen being sufficiently electrically conductive to ensure that the bulk of the incoming electrons go to ground. The formation of the image depends on collecting the different signals that are scattered as a consequence of the high energy beam interacting with the sample. Backscattered electrons and secondary electrons are generated within the primary beam-sample interactive volume and are the two principal signals used to form images. The backscattered electron coefficient ( ) increases with increasing atomic number of the specimen, whereas the secondary electron coefficient ( ) is relatively insensitive to atomic number. This fundamental diff- ence in the two signals can have an important effect on the way samples may need to be prepared. The analytical system depends on collecting the x-ray photons that are generated within the sample as a consequence of interaction with the same high energy beam of primary electrons used to produce images.
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Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 234,68
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 344.
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Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Idioma: Inglés
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., US, 2009
ISBN 10: 0387857303 ISBN 13: 9780387857305
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 173,95
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Añadir al carritoHardback. Condición: New. 2009 ed.
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Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 242,54
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 200 pages. 10.25x7.25x1.00 inches. In Stock.
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Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Idioma: Inglés
Publicado por Springer US, Springer US Mär 2009, 2009
ISBN 10: 0387857303 ISBN 13: 9780387857305
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 160,49
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Scanning electr on microscopy (SEM) and x-ray microanalysis can produce magnified images and in situ chemical information from virtually any type of specimen. The two instruments generally operate in a high vacuum and a very dry environment in order to produce the high energy beam of electrons needed for imaging and analysis. With a few notable exceptions, most specimens destined for study in the SEM are poor conductors and composed of beam sensitive light elements containing variable amounts of water. In the SEM, the imaging system depends on the specimen being sufficiently electrically conductive to ensure that the bulk of the incoming electrons go to ground. The formation of the image depends on collecting the different signals that are scattered as a consequence of the high energy beam interacting with the sample. Backscattered electrons and secondary electrons are generated within the primary beam-sample interactive volume and are the two principal signals used to form images. The backscattered electron coefficient ( ) increases with increasing atomic number of the specimen, whereas the secondary electron coefficient ( ) is relatively insensitive to atomic number. This fundamental diff- ence in the two signals can have an important effect on the way samples may need to be prepared. The analytical system depends on collecting the x-ray photons that are generated within the sample as a consequence of interaction with the same high energy beam of primary electrons used to produce images. 344 pp. Englisch.
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Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Idioma: Inglés
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., 2009
ISBN 10: 0387857303 ISBN 13: 9780387857305
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 170,30
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Añadir al carritoHardback. Condición: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days.
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Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 181,80
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 200 pages. 10.25x7.25x1.00 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 141,20
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis | Patrick Echlin | Buch | xii | Englisch | 2009 | Copernicus | EAN 9780387857305 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Idioma: Inglés
Publicado por Springer US, Copernicus Mär 2009, 2009
ISBN 10: 0387857303 ISBN 13: 9780387857305
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 160,49
Envío por EUR 60,00
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Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 248,27
Envío por EUR 7,67
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Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 247,93
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