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9780387400938 - Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation: 36 (Springer Series in Optical Sciences, 36) de Kohl, Helmut; Reimer, Ludwig (11 resultados)
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Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation (Springer Series in Optical Sciences, 36, Band 36)
Libro 41 de 235: Springer Series in Optical SciencesLibrería: Studibuch, Stuttgart, Alemania
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Añadir al carritohardcover. Condición: Befriedigend. 606 Seiten; 9780387400938.4 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation (Springer Series in Optical Sciences, 36)
Libro 41 de 235: Springer Series in Optical SciencesLibrería: Books From California, Simi Valley, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 127,55
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Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation (Springer Series in Optical Sciences, 36)
Libro 41 de 235: Springer Series in Optical SciencesLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Transmission Electron Microscopy : Physics of Image Formation
Libro 41 de 235: Springer Series in Optical SciencesLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 207,21
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Transmission Electron Microscopy : Physics of Image Formation
Libro 41 de 235: Springer Series in Optical SciencesLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Transmission Electron Microscopy : Physics of Image Formation
Libro 41 de 235: Springer Series in Optical SciencesLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Transmission Electron Microscopy : Physics of Image Formation
Libro 41 de 235: Springer Series in Optical SciencesLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Transmission Electron Microscopy
Libro 41 de 235: Springer Series in Optical SciencesIdioma: Inglés
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., US, 2008
ISBN 10: 0387400931 ISBN 13: 9780387400938
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino Unido
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Añadir al carritoHardback. Condición: New. Fifth Edition 2008. Transmission Electron Microscopy presents the theory of image and contrast formation, and the analytical modes in transmission electron microscopy. The principles of particle and wave optics of electrons are described. Electron-specimen interactions are discussed for evaluating the theory of scattering and phase contrast. Also discussed are the kinematical and dynamical theories of electron diffraction and their applications for crystal-structure analysis and imaging of lattices and their defects. X-ray micronanalysis and electron energy-loss spectroscopy are treated as analytical methods. Specimen damage and contamination by electron irradiation limits the resolution for biological and some inorganic specimens. This fifth edition includes discussion of recent progress, especially in the area of aberration corrector, and energy filtering; moreover the new topics of the forth edition have been updated again. USP: -Standard reference book -Now updated by the successor of the original author -New topics of the field included -Gives a comprehensive review of recent progresses in TEM.
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Transmission Electron Microscopy
Libro 41 de 235: Springer Series in Optical SciencesIdioma: Inglés
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., US, 2008
ISBN 10: 0387400931 ISBN 13: 9780387400938
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoHardback. Condición: New. Fifth Edition 2008. Transmission Electron Microscopy presents the theory of image and contrast formation, and the analytical modes in transmission electron microscopy. The principles of particle and wave optics of electrons are described. Electron-specimen interactions are discussed for evaluating the theory of scattering and phase contrast. Also discussed are the kinematical and dynamical theories of electron diffraction and their applications for crystal-structure analysis and imaging of lattices and their defects. X-ray micronanalysis and electron energy-loss spectroscopy are treated as analytical methods. Specimen damage and contamination by electron irradiation limits the resolution for biological and some inorganic specimens. This fifth edition includes discussion of recent progress, especially in the area of aberration corrector, and energy filtering; moreover the new topics of the forth edition have been updated again. USP: -Standard reference book -Now updated by the successor of the original author -New topics of the field included -Gives a comprehensive review of recent progresses in TEM.
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Transmission Electron Microscopy
Libro 41 de 235: Springer Series in Optical SciencesLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Transmission Electron Microscopy
Libro 41 de 235: Springer Series in Optical SciencesLibrería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
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