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9780306435317 - Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 2 (15 resultados)
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems Volume 2.
Idioma: Inglés
Publicado por Plenum Press, New York, 1990
ISBN 10: 0306435314 ISBN 13: 9780306435317
Librería: Rivermead Books, Southampton., Reino Unido
Calificación del vendedor: 1 de 5 estrellas
Original o primera edición
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 2
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 164,39
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Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 2
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : Volume 2
Idioma: Inglés
Publicado por Springer US, Springer US, 1990
ISBN 10: 0306435314 ISBN 13: 9780306435317
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Higher circuit densities, increasingly more complex application ohjectives, and advanced packaging technologies have suhstantially increased the need to incorporate defect-tolerance and fault-tolerance in the design of VLSI and WSI systems. The goals of defect-tolerance and fault-tolerance are yield enhancement and improved reliahility. The emphasis on this area has resulted in a new field of interdisciplinary scientific research. I n fact, advanced methods of defect/fault control and tolerance are resulting in enhanced manufacturahility and productivity of integrated circuit chips, VI.SI systems, and wafer scale integrated circuits. In 1987, Dr. W. Moore organized an 'International Workshop on Designing for Yield' at Oxford University. Edited papers of that workshop were published in reference [II. The participants in that workshop agreed that meetings of this type should he con tinued. preferahly on a yearly hasis. It was Dr. I. Koren who organized the 'IEEE Inter national Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems' in Springfield Massachusetts the next year. Selected papers from that workshop were puhlished as the first volume of this series [21.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Higher circuit densities, increasingly more complex application ohjectives, and advanced packaging technologies have suhstantially increased the need to incorporate defect-tolerance and fault-tolerance in the design of VLSI and WSI systems. The goals of defect-tolerance and fault-tolerance are yield enhancement and improved reliahility. The emphasis on this area has resulted in a new field of interdisciplinary scientific research. I n fact, advanced methods of defect/fault control and tolerance are resulting in enhanced manufacturahility and productivity of integrated circuit chips, VI.SI systems, and wafer scale integrated circuits. In 1987, Dr. W. Moore organized an 'International Workshop on Designing for Yield' at Oxford University. Edited papers of that workshop were published in reference [II. The participants in that workshop agreed that meetings of this type should he con tinued. preferahly on a yearly hasis. It was Dr. I. Koren who organized the 'IEEE Inter national Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems' in Springfield Massachusetts the next year. Selected papers from that workshop were puhlished as the first volume of this series [21. 334 pp. Englisch.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Higher circuit densities, increasingly more complex application ohjectives, and advanced packaging technologies have suhstantially increased the need to incorporate defect-tolerance and fault-tolerance in the design of VLSI and WSI systems. The goals of def.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems | Volume 2
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems | Volume 2 | C. H. Stapper (u. a.) | Buch | Einband - fest (Hardcover) | Englisch | 1990 | Springer US | EAN 9780306435317 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Heidelberg, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, buchhandel-buch[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
Idioma: Inglés
Publicado por Springer US, Springer US Okt 1990, 1990
ISBN 10: 0306435314 ISBN 13: 9780306435317
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Higher circuit densities, increasingly more complex application ohjectives, and advanced packaging technologies have suhstantially increased the need to incorporate defect-tolerance and fault-tolerance in the design of VLSI and WSI systems. The goals of defect-tolerance and fault-tolerance are yield enhancement and improved reliahility. The emphasis on this area has resulted in a new field of interdisciplinary scientific research. I n fact, advanced methods of defect/fault control and tolerance are resulting in enhanced manufacturahility and productivity of integrated circuit chips, VI.SI systems, and wafer scale integrated circuits. In 1987, Dr. W. Moore organized an 'International Workshop on Designing for Yield' at Oxford University. Edited papers of that workshop were published in reference [II. The participants in that workshop agreed that meetings of this type should he con tinued. preferahly on a yearly hasis. It was Dr. I. Koren who organized the 'IEEE Inter national Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems' in Springfield Massachusetts the next year. Selected papers from that workshop were puhlished as the first volume of this series [21.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 334 pp. Englisch.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
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