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9780262060967 - Logic Testing and Design for Testability (Computer Systems Series) de Fujiwara, Hideo (2 resultados)
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Logic Testing and Design for Testability; Mit Press Series in Computer Systems;
Librería: books4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG), Welling, Alemania
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Añadir al carritogebundene Ausgabe. Condición: Gut. 284 Seiten; Der Erhaltungszustand des hier angebotenen Werks ist trotz seiner Bibliotheksnutzung sauber. Es befindet sich neben dem Rückenschild lediglich ein Bibliotheksstempel im Buch; ordnungsgemäß entwidmet. In ENGLISCHER Sprache. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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MIT Press Series in Computer Systems: Logic Testing and Design for Testability
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 27,50
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Poor. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Book contains pencil markings. In poor condition, suitable as a reading copy. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,750grams, ISBN:0262060965.
