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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2014

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    • Tapa dura

    Librería: Books From California, Simi Valley, CA, Estados Unidos de AmericaBooks From California

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    Condición: Usado - Bueno

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    hardcover. Condición: Very Good.

  • Idioma: Español

    Editorial: Springer, 2016

    1493954385 / 9781493954384

    • Tapa blanda

    Librería: Hamelyn, Madrid, M, EspañaHamelyn

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    Condición: Usado - Aceptable

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    Condición: Good. : Este libro trata sobre el empaquetado a nivel de oblea a escala de chip y sus aplicaciones en semiconductores analógicos y de potencia. Cubre aplicaciones analógicas y de semiconductores de potencia. EAN: 9781493954384 Tipo: Libros Categoría: Tecnología Título: Wafer-Level Chip-Scale Packaging Autor: Yong Liu| Shichun Qu Editorial: Springer Idioma: en Páginas: 339 Formato: tapa blanda.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2014

    149391555X / 9781493915552

    • Tapa dura

    Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2016

    1493954385 / 9781493954384

    • Tapa blanda

    Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books

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    Paperback. Condición: Brand New. reprint edition. 339 pages. 9.25x6.10x0.80 inches. In Stock.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer New York, 2016

    1493954385 / 9781493954384

    • Tapa blanda

    Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark

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    Condición: Usado - Excelente

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    Condición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 340 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Analog and Power Wafer Level Chip Scale Packaging presents a state-of-art and in-depth overview in analog and power WLCSP design, material characterization, reliability and modeling. Recent advances in analog and power electronic WLCSP packaging are presented based on the development of analog technology and power device integration. The book covers in detail how advances in semiconductor content, analog and power advanced WLCSP design, assembly, materials and reliability have co-enabled significant advances in fan-in and fan-out with redistributed layer (RDL) of analog and power device capability during recent years. Since the analog and power electronic wafer level packaging is different from regular digital and memory IC package, this book will systematically introduce the typical analog and power electronic wafer level packaging design, assembly process, materials, reliability and failure analysis, and material selection. Along with new analog and power WLCSP development, the roleof modeling is a key to assure successful package design. An overview of the analog and power WLCSP modeling and typical thermal, electrical and stress modeling methodologies is also presented in the book.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2014

    149391555X / 9781493915552

    • Tapa dura

    Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2014

    149391555X / 9781493915552

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    Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2014

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    Hardcover. Condición: Brand New. 322 pages. 9.25x6.25x1.00 inches. In Stock.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2014

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2016

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2016

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2014

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer New York, 2016

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    Kartoniert / Broschiert. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Covers the development of wafer level power discrete packaging with regular wafer level design concept and directly bumping technologyIntroduces the development of the analog and power SIP/3D/TSV/stack die packaging technologyPresents the w.

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    Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Covers the development of wafer level power discrete packaging with regular wafer level design concept and directly bumping technologyIntroduces the development of the analog and power SIP/3D/TSV/stack die packaging technologyPresents the w.

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    Editorial: Springer, 2014

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    Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios

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