Oechsner h (29 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Cham, Springer International Publishing., 2021
- Tapa dura
- Primera edición
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EUR 22,00
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1st ed. 2021. XVII, 369 p. Hardcover. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Advanced Structured Materials, 148. Sprache: Englisch.
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Hardcover. Condición: Gut. 23,5cm; 667; XVIII.; Hardcover. Sprache: Englisch, Zustand: Gut bis Sehr Gut min. gebräunt (Innen); Besitzerstempel; Einband (Außen) hat geringe Gebrauchsspuren; Außenecken sind gering bestoßen; Schutzumschlag fehlt, oder es gibt keinen; * Die Photos sind original von uns erstellt worden, u.a. erkennba…r an einem kleinen weißen Stück Papier im oberen Schnitt. Ab und an verwenden Suchmaschinen Verlagsphotos, bei den Portalen selbst, werden aber nur unsere Originalphotos gezeigt.
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EUR 52,98
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Hardcover. Condición: Near Fine. This book has very minor shelfwear to the edges and corners of the covers and a very gentle overall aging to the pages, otherwise this book is in excellent, like new condition with crisp, unmarked pages, a tight binding, and a strong, clean cover.
Plasma surface engineering (plasma?oberflächentechnik). (Vol. 2)
E. Broszeit, W. D. Munz, H. Oechsner, K.?T. Rie, G. K. Wolf (Hrsg.),
Idioma: Inglés
Editorial: DGM Informationsgesellschaft?Verlag, Oberursel :, 1989
- Tapa dura
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EUR 53,25
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Hardcover. Condición: Gut. 23,5cm; 671-1294; XVIII.; Hardcover. Sprache: Englisch, zahlreiche Abbildungen und Tabellen. Zustand: Gut bis Sehr Gut min. gebräunt (Innen); Besitzerstempel; Einband (Außen) hat geringe Gebrauchsspuren; Schutzumschlag fehlt, oder es gibt keinen; * Die Photos sind original von uns erstellt worden, u.a.… erkennbar an einem kleinen weißen Stück Papier im oberen Schnitt. Ab und an verwenden Suchmaschinen Verlagsphotos, bei den Portalen selbst, werden aber nur unsere Originalphotos gezeigt.
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EUR 54,20
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Hardcover. Condición: Gut. XI, 205 p. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. C-05569 3540133208 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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Añadir al carritoOechsner, Hans. Der Bauer im Staat. Nationalsozialistische Bauernstaatskunde. Im Auftrage des Reichsbundes Deutscher Diplomlandwirte. 5. neubearbeitete Auflage. Hannover, Schaper, 1936. 8°. Mit einem Porträt und vielen Textabbildungen. 79 Seiten. Original - geheftet. * Name auf Innenumschlag. Umschlag am Rücken und den Rändern v…erblichen. Rücken oben etwas defekt.
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2020
- Tapa blanda
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
- Tapa dura
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Condición: New. pp. 224.
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Paperback. Condición: Brand New. reprint edition. 205 pages. 9.75x7.00x0.50 inches. In Stock.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2020
- Tapa blanda
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
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EUR 161,37
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The characterization of thin films and solid interfaces as well as the determina tion of concentration profiles in thin solid layers is one of the fields which re quire a rapid transfer of the results from basic research to technological applica ti…ons and developments. It is the merit of the Dr. Wilhelm Heinrich and Else Heraeus-Stiftung to promote such a transfer by organizing high standard seminars mostly held at the 'Physikzentrum' in Bad Honnef near Bonn. The present book has been stimulated by one of these seminars assembling most of the invited speakers as co-authors. The editor appreciates the cooperation of his colleagues contributing to this book. H. Oechsner Kaiserslautern, April 1984 v Contents 1. Introduction. ByH. Oechsner . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1. 1 Requirements for Thin Film and In-Depth Analysis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1. 2 Object and Outl i ne of the Book . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2 4 References 2. The Application of Beam and Diffraction Techniques to Thin Film and Surface Micro-Analysis. By H. W. Werner (With 25 Fi gures) . . . . . . . . . . . . . . . . 5 2. 1 Methods to Determine Chemical Structures in Material Research 5 2. 2 Selected Analytical Features Used to Determine Chemical Structures 9 2. 2. 1 Depth Profi 1 ing . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9 9 a) Destructive Depth Profiling b) Nondestructive Methods for Depth and Thin Film Analysis 15 19 2. 2. 2 Microspot Analysis and Element Imaging 2. 3 Determining Physical Structures in Material Research . . . . . . . . . . . . . . . 27 2. 3. 1 X-Ray Diffraction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27 2. 3. 2 X-Ray Double Crystal Diffraction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28 2. 3.
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Librería: Ammareal, Morangis, FranciaAmmareal
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EUR 160,00
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Hardcover. Condición: Bon. Ancien livre de bibliothèque avec équipements. Edition 1984. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Edition 1984. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity orga…nizations.
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Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark
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EUR 100,55
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Condición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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Paperback. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Plasma surface engineering (plasma?oberflächentechnik). (Vol. 2) E. Broszeit, W. D. Munz, H. Oechsner, K.?T. Rie, G. K. Wolf (Hrsg.)
E. Broszeit, W. D. Munz, H. Oechsner, K.?T. Rie, G. K. Wolf (Hrsg.)
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Librería: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, AlemaniaBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
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EUR 189,00
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Hardcover. Condición: gut. 1989. Plasma surface engineering (plasma?oberflächentechnik). (Vol. 2) In deutscher Sprache. pages.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2023
- Tapa blanda
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2023
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Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore
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Librería: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, AlemaniaBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
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EUR 479,90
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Hardcover. Condición: gut. 1984. Thin Film and Depth Profile Analysis (Topics in Current Physics, 37, Band 37) In deutscher Sprache. pages.
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- Edición internacional
Librería: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Reino UnidoUK BOOKS STORE
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Editorial: Amsterdam, Elsevier 1993., 1993
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EUR 180,00
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Añadir al carrito4°. XII, 638 S. m. einigen s/w Abb., OPpbd., ausgeschied. Bibl.-Expl. mit den üblichen Kennzeichnungen. ISSN 0257-8972.
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Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
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Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The characterization of thin films and solid interfaces as well as the determina tion of concentration profiles in thin solid layers is one of the fields which re quire a rapid transfer of the results from basic research to technolo…gical applica tions and developments. It is the merit of the Dr. Wilhelm Heinrich and Else Heraeus-Stiftung to promote such a transfer by organizing high standard seminars mostly held at the 'Physikzentrum' in Bad Honnef near Bonn. The present book has been stimulated by one of these seminars assembling most of the invited speakers as co-authors. The editor appreciates the cooperation of his colleagues contributing to this book. H. Oechsner Kaiserslautern, April 1984 v Contents 1. Introduction. ByH. Oechsner . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1. 1 Requirements for Thin Film and In-Depth Analysis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1. 2 Object and Outl i ne of the Book . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2 4 References 2. The Application of Beam and Diffraction Techniques to Thin Film and Surface Micro-Analysis. By H. W. Werner (With 25 Fi gures) . . . . . . . . . . . . . . . . 5 2. 1 Methods to Determine Chemical Structures in Material Research 5 2. 2 Selected Analytical Features Used to Determine Chemical Structures 9 2. 2. 1 Depth Profi 1 ing . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9 9 a) Destructive Depth Profiling b) Nondestructive Methods for Depth and Thin Film Analysis 15 19 2. 2. 2 Microspot Analysis and Element Imaging 2. 3 Determining Physical Structures in Material Research . . . . . . . . . . . . . . . 27 2. 3. 1 X-Ray Diffraction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27 2. 3. 2 X-Ray Double Crystal Diffraction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28 2. 3. 224 pp. Englisch.
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Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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Condición: New. PRINT ON DEMAND pp. 224.
- Tapa blanda
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Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000
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Envío por EUR 60,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -The characterization of thin films and solid interfaces as well as the determina tion of concentration profiles in thin solid layers is one of the fields which re quire a rapid transfer of the results from basic research to technologica…l applica tions and developments. It is the merit of the Dr. Wilhelm Heinrich and Else Heraeus-Stiftung to promote such a transfer by organizing high standard seminars mostly held at the 'Physikzentrum' in Bad Honnef near Bonn. The present book has been stimulated by one of these seminars assembling most of the invited speakers as co-authors. The editor appreciates the cooperation of his colleagues contributing to this book. H. Oechsner Kaiserslautern, April 1984 v Contents 1. Introduction. ByH. Oechsner . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1. 1 Requirements for Thin Film and In-Depth Analysis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1. 2 Object and Outl i ne of the Book . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2 4 References 2. The Application of Beam and Diffraction Techniques to Thin Film and Surface Micro-Analysis. By H. W. Werner (With 25 Fi gures) . . . . . . . . . . . . . . . . 5 2. 1 Methods to Determine Chemical Structures in Material Research 5 2. 2 Selected Analytical Features Used to Determine Chemical Structures 9 2. 2. 1 Depth Profi 1 ing . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9 9 a) Destructive Depth Profiling b) Nondestructive Methods for Depth and Thin Film Analysis 15 19 2. 2. 2 Microspot Analysis and Element Imaging 2. 3 Determining Physical Structures in Material Research . . . . . . . . . . . . . . . 27 2. 3. 1 X-Ray Diffraction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27 2. 3. 2 X-Ray Double Crystal Diffraction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28 2. 3.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 224 pp. Englisch.
