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AutoTestCon '82 - IEEE Internationational Automatic Testing Conference, 12-14 October 1982, Dayton, Ohio
Publicado por IEEE; The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc., New York, NY, U.S.A., 1982
Librería: SUNSET BOOKS 2, Newark, OH, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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