Devaney john leedy keery (1 resultados)

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Semiconductor Measurement Technology: Notes on SEM Examination of Microelectronic Devices (NBS Special Publication 400-35).
Devaney, John R., K. O. Leedy and W. J. Keery.
Editorial: National Bureau of Standards., 1977
- Tapa blanda
Librería: Eryops Books, Stephenville, TX, Estados Unidos de AmericaEryops Books
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