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Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis. Theory and Applications.
Libro 91 de 233: Springer Series in Materials ScienceIdioma: Inglés
Publicado por Berlin, Springer Berlin., 2013
ISBN 10: 3642381766 ISBN 13: 9783642381768
Librería: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Alemania
Miembro de asociación: GIAQ ILAB VDA
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THEORETICAL CONCEPTS OF X RAY NANOSCALE ANALYSIS VOL 183 (HB 2014)
Libro 91 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
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THEORETICAL CONCEPTS OF X RAY NANOSCALE ANALYSIS VOL 183 (HB 2014)
Libro 91 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de America
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Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis: Theory and Applications (Springer Series in Materials Science, 183)
Libro 91 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
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Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis: Theory and Applications (Springer Series in Materials Science, 183)
Libro 91 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
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Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis: Theory and Applications (Springer Series in Materials Science, 183)
Libro 91 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis: Theory and Applications (Springer Series in Materials Science, 183)
Libro 91 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis: Theory and Applications (Springer Series in Materials Science, 183)
Libro 91 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
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Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis: Theory and Applications (Springer Series in Materials Science (183))
Libro 91 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
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Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis : Theory and Applications
Libro 91 de 233: Springer Series in Materials ScienceIdioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2016
ISBN 10: 3662520540 ISBN 13: 9783662520543
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides a concise survey of modern theoretical concepts of X-ray materials analysis. The principle features of the book are: basics of X-ray scattering, interaction between X-rays and matter and new theoretical concepts of X-ray scattering. The various X-ray techniques are considered in detail: high-resolution X-ray diffraction, X-ray reflectivity, grazing-incidence small-angle X-ray scattering and X-ray residual stress analysis. All the theoretical methods presented use the unified physical approach. This makes the book especially useful for readers learning and performing data analysis with different techniques. The theory is applicable to studies of bulk materials of all kinds, including single crystals and polycrystals as well as to surface studies under grazing incidence. The book appeals to researchers and graduate students alike.
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Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis : Theory and Applications
Libro 91 de 233: Springer Series in Materials ScienceIdioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2013
ISBN 10: 3642381766 ISBN 13: 9783642381768
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides a concise survey of modern theoretical concepts of X-ray materials analysis. The principle features of the book are: basics of X-ray scattering, interaction between X-rays and matter and new theoretical concepts of X-ray scattering. The various X-ray techniques are considered in detail: high-resolution X-ray diffraction, X-ray reflectivity, grazing-incidence small-angle X-ray scattering and X-ray residual stress analysis. All the theoretical methods presented use the unified physical approach. This makes the book especially useful for readers learning and performing data analysis with different techniques. The theory is applicable to studies of bulk materials of all kinds, including single crystals and polycrystals as well as to surface studies under grazing incidence. The book appeals to researchers and graduate students alike.
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Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis
Libro 91 de 233: Springer Series in Materials ScienceIdioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Sep 2013, 2013
ISBN 10: 3642381766 ISBN 13: 9783642381768
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware -InhaltsangabeBasic principles of the interaction between X-rays and matter.- X-ray reflectivity.- High-resolution X-ray diffraction.- Grazing-incidence small-angle X-ray scattering.- Theory of X-ray scattering from imperfect crystals.- X-ray diffraction for evaluation of residual stresses in polycrystals.- Methods of mathematical and physical optimization of X-ray data analysis.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 332 pp. Englisch.
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Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis
Libro 91 de 233: Springer Series in Materials ScienceIdioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Aug 2016, 2016
ISBN 10: 3662520540 ISBN 13: 9783662520543
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Neuware -This book provides a concise survey of modern theoretical concepts of X-ray materials analysis. The principle features of the book are: basics of X-ray scattering, interaction between X-rays and matter and new theoretical concepts of X-ray scattering. The various X-ray techniques are considered in detail: high-resolution X-ray diffraction, X-ray reflectivity, grazing-incidence small-angle X-ray scattering and X-ray residual stress analysis. All the theoretical methods presented use the unified physical approach. This makes the book especially useful for readers learning and performing data analysis with different techniques. The theory is applicable to studies of bulk materials of all kinds, including single crystals and polycrystals as well as to surface studies under grazing incidence. The book appeals to researchers and graduate students alike.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 332 pp. Englisch.
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Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis: Theory and Applications (Springer Series in Materials Science)
Libro 91 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis
Libro 91 de 233: Springer Series in Materials ScienceIdioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg Aug 2016, 2016
ISBN 10: 3662520540 ISBN 13: 9783662520543
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book provides a concise survey of modern theoretical concepts of X-ray materials analysis. The principle features of the book are: basics of X-ray scattering, interaction between X-rays and matter and new theoretical concepts of X-ray scattering. The various X-ray techniques are considered in detail: high-resolution X-ray diffraction, X-ray reflectivity, grazing-incidence small-angle X-ray scattering and X-ray residual stress analysis. All the theoretical methods presented use the unified physical approach. This makes the book especially useful for readers learning and performing data analysis with different techniques. The theory is applicable to studies of bulk materials of all kinds, including single crystals and polycrystals as well as to surface studies under grazing incidence. The book appeals to researchers and graduate students alike. 332 pp. Englisch.
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Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis
Libro 91 de 233: Springer Series in Materials ScienceIdioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg Sep 2013, 2013
ISBN 10: 3642381766 ISBN 13: 9783642381768
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
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Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis: Theory and Applications (Springer Series in Materials Science)
Libro 91 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis: Theory and Applications (Springer Series in Materials Science)
Libro 91 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
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