Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies

Idioma: inglés

Editorial: Springer International Publishing Mrz 2020, 2020

303041535X / 9783030415358

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book presents a new methodology with reduced time impact to address the problem of analog integrated circuit (IC) yield estimation by means of Monte Carlo (MC) analysis, inside an optimization loop of a population-based algorithm. The low time impact on the overall optimization processes enables IC designers to perform yield optimization with the most accurate yield estimation method, MC simulations using foundry statistical device models considering local and global variations. The methodology described by the authors delivers on average a reduction of 89% in the total number of MC simulations, when compared to the exhaustive MC analysis over the full population. In addition to describing a newly developed yield estimation technique, the authors also provide detailed background on automatic analog IC sizing and optimization. 264 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9783030415358

Título
Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies
Autor
António Manuel Lourenço Canelas
Editorial
Springer International Publishing Mrz 2020
Año de publicación
2020
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
303041535X
ISBN 13
9783030415358
Peso del artículo
565 gramos
Dimensiones
241x160x20 mm

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