X-Ray Microscopy II

Idioma: inglés

Editorial: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Okt 2013, 2013

3662144905 / 9783662144909

Serie: Libro 126 de 235 - Springer Series in Optical Sciences

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This volume is based on papers presented at the International Symposium on X-Ray Microscopy held at Brookhaven National Laboratory, Upton NY, August 31-September 4, 1987. Previous recent symposia on the sub ject were held in New York in 1979, Gottingen in 1983 and Taipei in 1986. Developments in x-ray microscopy continue at a rapid pace, with im portant advances in all major areas: x-ray sources, optics and components, and microscopes and imaging systems. Taken as a whole, the work pre sented here emphasizes three major directions: (a) improvements in the capability and image-quality of x-ray microscopy, expressed principally in systems attached to large, high-brightness x-ray sources; (b) greater access to x-ray microscopy, expressed chiefly in systems employing small, often pulsed, x-ray sources; and (c) increased rate of exploration of applications of x-ray microscopy. The number of papers presented at the symposium has roughly dou bled compared with that of its predecessors. While we are delighted at this growth as a manifestation of vitality and rapid growth of the field, we did have to ask the authors to limit the length of their papers and to submit them in camera-ready form. We thank the authors for their con tributions and for their efforts in adhering to the guidelines on manuscript preparation. 472 pp. Englisch.…

N° de ref. del artículo 9783662144909

Título
X-Ray Microscopy II
Autor
David Sayre
Editorial
Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Okt 2013
Año de publicación
2013
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
3662144905
ISBN 13
9783662144909
Peso del artículo
678 gramos
Dimensiones
229x152x26 mm
Serie
Libro 126 de 235: Springer Series in Optical Sciences

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