Wafer Scale Integration

Idioma: inglés

Editorial: Springer, Springer Feb 2012, 2012

1461288967 / 9781461288961

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Wafer Scale Integration (WSI) is the culmination of the quest for larger integrated circuits. In VLSI chips are developed by fabricating a wafer with hundreds of identical circuits, testing the circuits, dicing the wafer, and packaging the good dice. In contrast in WSI, a wafer is fabricated with several types of circuits (generally referred to as cells), with multiple instances of each cell type, the cells are tested, and good cells are interconnected to realize a system on the wafer. Since most signal lines stay on the wafer, stray capacitance is low, so that high speeds are achieved with low power consumption. For the same technology a WSI implementation may be a factor of five faster, dissipate a factor of ten less power, and require one hundredth to one thousandth the volume. Successful development of WSI involves many overlapping disciplines, ranging from architecture to test design to fabrication (including laser linking and cutting, multiple levels of interconnection, and packaging). This book concentrates on the areas that are unique to WSI and that are as a result not well covered by any of the many books on VLSI design. A unique aspect of WSI is that the finished circuits are so large that there will be defects in some portions of the circuit. Accordingly much attention must be devoted to designing architectures that facilitate fault detection and reconfiguration to of WSI include fabrication circumvent the faults. Other unique aspects technology and packaging. 528 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9781461288961

Título
Wafer Scale Integration
Autor
Earl E. Swartzlander Jr.
Editorial
Springer, Springer Feb 2012
Año de publicación
2012
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
1461288967
ISBN 13
9781461288961
Peso del artículo
791 gramos
Dimensiones
235x155x29 mm

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