Verification by Error Modeling

Idioma: inglés

Editorial: Springer US, Springer US Dez 2010, 2010

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Serie: Libro 4 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -1. DESIGN FLOW Integrated circuit (IC) complexity is steadily increasing. ICs incorporating hundreds of millions of transistors, mega-bit memories, complicated pipelined structures, etc., are now in high demand. For example, Intel Itanium II processor contains more than 200 million transistors, including a 3 MB third level cache. A billion transistor IC was said to be 'imminently doable' by Intel fellow J. Crawford at Microprocessor Forum in October 2002 [40]. Obviously, designing such complex circuits poses real challenges to engineers. Certainly, no relief comes from the competitive marketplace, with increasing demands for a very narrow window of time (time-to-market) in engineering a ready product. Therefore, a systematic and well-structured approach to designing ICs is a must. Although there are no widely adhered standards for a design flow, most companies have their own established practices, which they follow closely for in-house design processes. In general, however, a typical product cycle includes few milestones. An idea for a new product starts usually from an - depth market analysis of customer needs. Once a window of opportunity is found, product requirements are carefully specified. Ideally, these parameters would not change during the design process. In practice, initial phases of preparing a design specification are susceptible to potential errors, as it is very difficult to grasp all the details in a complex design. 236 pp. Englisch.…

N° de ref. del artículo 9781441954022

Título
Verification by Error Modeling
Autor
Zeljko Zilic
Editorial
Springer US, Springer US Dez 2010
Año de publicación
2010
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
1441954023
ISBN 13
9781441954022
Peso del artículo
365 gramos
Dimensiones
235x155x13 mm
Serie
Libro 4 de 40: Frontiers in Electronic Testing

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