Variation-Aware Advanced CMOS Devices and SRAM

Idioma: inglés

Editorial: Springer, Springer Jun 2016, 2016

9401775958 / 9789401775953

Serie: Libro 60 de 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics

Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book provides a comprehensive overview of contemporary issues in complementary metal-oxide semiconductor (CMOS) device design, describing how to overcome process-induced random variations such as line-edge-roughness, random-dopant-fluctuation, and work-function variation, and the applications of novel CMOS devices to cache memory (or Static Random Access Memory, SRAM). The author places emphasis on the physical understanding of process-induced random variation as well as the introduction of novel CMOS device structures and their application to SRAM.The book outlines the technical predicament facing state-of-the-art CMOS technology development, due to the effect of ever-increasing process-induced random/intrinsic variation in transistor performance at the sub-30-nm technology nodes. Therefore, the physical understanding of process-induced random/intrinsic variations and the technical solutions to address these issues plays a key role in new CMOS technology development.This book aims to provide the reader with a deep understanding of the major random variation sources, and the characterization of each random variation source. Furthermore, the book presents various CMOS device designs to surmount the random variation in future CMOS technology, emphasizing the applications to SRAM.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 148 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9789401775953

Título
Variation-Aware Advanced CMOS Devices and SRAM
Autor
Changhwan Shin
Editorial
Springer, Springer Jun 2016
Año de publicación
2016
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
9401775958
ISBN 13
9789401775953
Peso del artículo
422 gramos
Dimensiones
241x160x14 mm
Serie
Libro 60 de 72: Springer Series in Advanced Microelectronics

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