VLSI Design and Test for Systems Dependability

Idioma: inglés

Editorial: Springer Japan, 2018

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Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book discusses the new roles that the VLSI (very-large-scale integration of semiconductor circuits) is taking for the safe, secure, and dependable design and operation of electronic systems.The book consists of three parts. Part I, as a gener.

N° de ref. del artículo 160317923

Título
VLSI Design and Test for Systems Dependability
Autor
Asai, Shojiro
Editorial
Springer Japan
Año de publicación
2018
Estado
New
Encuadernación
Gebunden
Idioma
inglés
ISBN 10
4431565922
ISBN 13
9784431565925

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