VLSI Design and Test

Idioma: inglés

Editorial: Springer Nature Singapore Jan 2019, 2019

9811359490 / 9789811359491

Serie: Libro 259 de 578 - Communications in Computer and Information Science

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book constitutes the refereed proceedings of the 22st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2018, held in Madurai, India, in June 2018.The 39 full papers and 11 short papers presented together with 8 poster papers were carefully reviewed and selected from 231submissions. The papers are organized in topical sections named: digital design; analog and mixed signal design; hardware security; micro bio-fluidics; VLSI testing; analog circuits and devices; network-on-chip; memory; quantum computing and NoC; sensors and interfaces. 740 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9789811359491

Título
VLSI Design and Test
Autor
S. Rajaram
Editorial
Springer Nature Singapore Jan 2019
Año de publicación
2019
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
9811359490
ISBN 13
9789811359491
Peso del artículo
1101 gramos
Dimensiones
235x155x40 mm
Serie
Libro 259 de 578: Communications in Computer and Information Science

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