Testing Static Random Access Memories

Idioma: inglés

Editorial: Springer US Dez 2010, 2010

1441954309 / 9781441954305

Serie: Libro 38 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Testing Static Random Access Memories covers testing of one of the important semiconductor memories types; it addresses testing of static random access memories (SRAMs), both single-port and multi-port. It contributes to the technical acknowledge needed by those involved in memory testing, engineers and researchers. The book begins with outlining the most popular SRAMs architectures. Then, the description of realistic fault models, based on defect injection and SPICE simulation, are introduced. Thereafter, high quality and low cost test patterns, as well as test strategies for single-port, two-port and any p-port SRAMs are presented, together with some preliminary test results showing the importance of the new tests in reducing DPM level. The impact of the port restrictions (e.g., read-only ports) on the fault models, tests, and test strategies is also discussed. Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing. 244 pp. Englisch.…

N° de ref. del artículo 9781441954305

Título
Testing Static Random Access Memories
Autor
Said Hamdioui
Editorial
Springer US Dez 2010
Año de publicación
2010
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
1441954309
ISBN 13
9781441954305
Peso del artículo
376 gramos
Dimensiones
235x155x14 mm
Serie
Libro 38 de 40: Frontiers in Electronic Testing

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