Testing Static Random Access Memories : Defects, Fault Models and Test Patterns

Libro 38 de 40: Frontiers in Electronic Testing

Said Hamdioui

ISBN 10: 1441954309 ISBN 13: 9781441954305
Editorial: Springer US, 2010
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

Vendido por AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania

Vendedor de AbeBooks desde 14 de agosto de 2006

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Nuevos - Encuadernación de tapa blanda

Condición: Nuevo

Precio:
EUR 112,77
EUR 61,88 shipping
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito