Testing and Reliable Design of CMOS Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 88)

Jha, Niraj K., Kundu, Sandip

ISBN 10: 1461288185 ISBN 13: 9781461288183
Editorial: Springer, 2011
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Como Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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