Testability Concepts for Digital ICs | The Macro Test Approach

Libro 1 de 40: Frontiers in Electronic Testing

F. P. M. Beenker (u. a.)

ISBN 10: 0792396588 ISBN 13: 9780792396581
Editorial: Springer US, 1995
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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