Testability Concepts for Digital ICs

Idioma: inglés

Editorial: Springer US, Springer US Nov 1995, 1995

0792396588 / 9780792396581

Serie: Libro 1 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Preface Testing Integrated Circuits for manufacturing defects includes four basic disciplines. First of all an understanding of the origin and behaviour of defects. Secondly, knowledge of IC design and IC design styles. Thirdly, knowledge of how to create a test program for an IC which is targeted on detecting these defects, and finally, understanding of the hardware, Automatic Test Equipment, to run the test on. All four items have to be treated, managed, and to a great extent integrated before the term 'IC quality' gets a certain meaning and a test a certain measurable value. The contents of this book reflects our activities on testability concepts for complex digital ICs as performed at Philips Research Laboratories in Eindhoven, The Netherlands. Based on the statements above, we have worked along a long term plan, which was based on four pillars. 1. The definition of a test methodology suitable for 'future' IC design styles, 2. capable of handling improved defect models, 3. supported by software tools, and 4. providing an easy link to Automatic Test Equipment. The reasoning we have followed was continuously focused on IC qUality. Quality expressed in terms of the ability of delivering a customer a device with no residual manufacturing defects. Bad devices should not escape a test. The basis of IC quality is a thorough understanding of defects and defect models.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 228 pp. Englisch.…

N° de ref. del artículo 9780792396581

Título
Testability Concepts for Digital ICs
Autor
F. P. M. Beenker
Editorial
Springer US, Springer US Nov 1995
Año de publicación
1995
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
0792396588
ISBN 13
9780792396581
Peso del artículo
512 gramos
Dimensiones
241x160x17 mm
Serie
Libro 1 de 40: Frontiers in Electronic Testing

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