Technology Assessment in a Globalized World : Facing the Challenges of Transnational Technology Governance

Hennen, Leonhard (EDT); Hahn, Julia (EDT); Ladikas, Miltos (EDT); Lindner, Ralf (EDT); Peissl, Walter (EDT)

ISBN 10: 3031106164 ISBN 13: 9783031106163
Editorial: Springer, 2023
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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