Structure Analysis by Small-Angle X-Ray and Neutron Scattering

Idioma: inglés

Editorial: Springer, Chapman And Hall/CRC Jun 2013, 2013

1475766262 / 9781475766264

  • Tapa blanda
  • Nuevo
Ver todos los detalles

Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de IberLibro desde 23 de enero de 2017

Tapa blanda

Condición: Nuevo

EUR 128,39

Envío por EUR 60,00 
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 1 disponible

Añadir al carrito
Devoluciones gratuitas de 30 días

Descripción del artículo del vendedor

This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Small-angle scattering of X rays and neutrons is a widely used diffraction method for studying the structure of matter. This method of elastic scattering is used in various branches of science and technology, includ ing condensed matter physics, molecular biology and biophysics, polymer science, and metallurgy. Many small-angle scattering studies are of value for pure science and practical applications. It is well known that the most general and informative method for investigating the spatial structure of matter is based on wave-diffraction phenomena. In diffraction experiments a primary beam of radiation influences a studied object, and the scattering pattern is analyzed. In principle, this analysis allows one to obtain information on the structure of a substance with a spatial resolution determined by the wavelength of the radiation. Diffraction methods are used for studying matter on all scales, from elementary particles to macro-objects. The use of X rays, neutrons, and electron beams, with wavelengths of about 1 A, permits the study of the condensed state of matter, solids and liquids, down to atomic resolution. Determination of the atomic structure of crystals, i.e., the arrangement of atoms in a unit cell, is an important example of this line of investigation.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 352 pp. Englisch.…

N° de ref. del artículo 9781475766264

Título
Structure Analysis by Small-Angle X-Ray and Neutron Scattering
Autor
L. A. Feigin
Editorial
Springer, Chapman And Hall/CRC Jun 2013
Año de publicación
2013
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
1475766262
ISBN 13
9781475766264
Peso del artículo
534 gramos
Dimensiones
235x155x20 mm

buchversandmimpf2000

Emtmannsberg, BAYE, Alemania

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de IberLibro desde 23 de enero de 2017

Tarifas de envío de Alemania a Estados Unidos de America

ArtículoDe 60 a 60 días hábilesDe 60 a 60 días hábiles
Primer artículoEUR 60,00EUR 75,00
Los plazos de entrega los establecen los vendedores y varían según el transportista y la ubicación. Los pedidos que pasan por la aduana pueden sufrir retrasos y los compradores son responsables de los aranceles o tarifas asociadas. Los vendedores pueden ponerse en contacto con usted en relación con cargos adicionales para cubrir cualquier aumento en los costes de envío de los artículos.

Métodos de pago

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • Cheque
  • PayPal

Descripción de la tienda

Impressum Thorsten Retsch Buchversand Mimpf2000 Oberölschnitz 16 95517 Emtmannsberg Deutschland Telefon: 09209-2023188 Email: mimpf2000@online.de USt-ID-Nr.: DE 235096871 Wir führen gebrauchte Bücher aus allen Sparten der Literatur

Especialidad

Modernes Antiquariat - Bücher von 1960 bis heute

Información empresarial del vendedor

buchversandmimpf2000

Alemania