Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshop, SSPR & SPR 2010, Cesme, Izmir, Turkey, August 18-20, 2010. Proceedings

Edwin R. Hancock

ISBN 10: 3642149790 ISBN 13: 9783642149795
Editorial: Springer, Berlin, Springer, 2010
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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