Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshop, SSPR & SPR 2012, Hiroshima, Japan, November 7-9, 2012, . Vision, Pattern Recognition, and Graphics)

ISBN 10: 3642341659 ISBN 13: 9783642341656
Editorial: Springer, 2012
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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