Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshops SSPR 2002 and SPR 2002, Windsor, Ontario, Canada, August 6-9, 2002. Proceedings

ISBN 10: 3540440119 ISBN 13: 9783540440116
Editorial: Springer, 2002
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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