Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Shen, Ruijing, Tan, Sheldon X.-D., Yu, Hao

ISBN 10: 1489987878 ISBN 13: 9781489987877
Editorial: Springer, 2014
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Como Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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