Statistical Methods for SPC and TQM

Chatfield, Chris (Series edited by)/ Zidek, Jim (Series edited by)/ Lindsey, Jim (Series edited by)/ Bissell, D (Author)

ISBN 10: 0412394405 ISBN 13: 9780412394409
Editorial: Chapman & Hall, 1994
Idioma: Inglés
Nuevos Condición: Brand New Encuadernación de tapa dura

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