In Situ Real Time Characterization of Thin Films: Edited by Orlando Auciello, Alan R. Krauss Auciello, Orlando and Krauss, Alan Robert

Auciello, Orlando [Editor]; Krauss, Alan R. [Editor];

ISBN 10: 0471241415 ISBN 13: 9780471241416
Editorial: Wiley-Interscience, 2000
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Como Nuevo Encuadernación de tapa dura

Vendido por Lost Time Books, Brattleboro, VT, Estados Unidos de America

Vendedor de AbeBooks desde 11 de junio de 2019

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Usado - Encuadernación de tapa dura

Condición: Usado - Como Nuevo

Precio:
EUR 26,33
Envío por EUR 5,97
Se envía dentro de Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito