Semiconductor Measurement Technology : A Versatile High - Voltage Bias Supply for Extended Range MIS C(V) and G(V) Measurments.

Editorial: NBS Special Publication 400-41, 1977, 62 Pp., 1977

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Detalles bibliográficos

Título
Semiconductor Measurement Technology : A Versatile High - Voltage Bias Supply for Extended Range MIS C(V) and G(V) Measurments.
Autor
Kuczer, Paul, Harvey O. Hook and Alvin M. Goodman.
Editorial
NBS Special Publication 400-41, 1977, 62 Pp.
Año de publicación
1977
Estado
Very Good
Encuadernación
Soft Cover
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