Semiconductor Measurement Technology : Improved Infrared Response Technique for Detecting Defects and Impurities in Germanium and Silicon p-i-n Diodes (NBS Special Publication 400-13).

Sher, A. H. and the Electronic Technology Division, Institute for Applied Technology, National Bureau of Standards.

Editorial: National Bureau of Standards., 1975
Condición: Usado - Bueno Encuadernación de tapa blanda

Vendido por Eryops Books, Stephenville, TX, Estados Unidos de America

Vendedor de AbeBooks desde 11 de julio de 2003

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Usado - Encuadernación de tapa blanda

Condición: Usado - Bueno

Precio:
EUR 3,50
EUR 5,16 shipping
Ships within Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito