Scanning Probe Microscopy

Idioma: inglés

Editorial: Intechopen Apr 2012, 2012

9535105760 / 9789535105763

Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Scanning probe microscopy (SPM) is one of the key enabling tools for the advancement for nanotechnology with applications in many interdisciplinary research areas. This book presents selected original research works on the application of scanning probe microscopy techniques for the characterization of physical properties of different materials at the nanoscale. The topics in the book range from surface morphology analysis of thin film structures, oxide thin layers and superconducting structures, novel scanning probe microscopy techniques for characterization of mechanical and electrical properties, evaluation of mechanical and tribological properties of hybrid coatings and thin films. The variety of topics chosen for the book underlines the strong interdisciplinary nature of the research work in the field of scanning probe microscopy.Books on Demand GmbH, Überseering 33, 22297 Hamburg 256 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9789535105763

Título
Scanning Probe Microscopy
Autor
Vijay Nalladega
Editorial
Intechopen Apr 2012
Año de publicación
2012
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
9535105760
ISBN 13
9789535105763
Peso del artículo
769 gramos
Dimensiones
266x185x22 mm

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Emtmannsberg, BAYE, Alemania

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