Scanning Probe Microscopy

Idioma: inglés

Editorial: Springer New York, Copernicus Dez 2006, 2006

0387286675 / 9780387286679

Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Scanning Probe Microscopy brings up to date a constantly growing knowledge base of electrical and electromechanical characterization at the nanoscale. This comprehensive, two-volume set presents practical and theoretical issues of advanced scanning probe microscopy (SPM) techniques ranging from fundamental physical studies to device characterization, failure analysis, and nanofabrication. Volume 1 focuses on the technical aspects of SPM methods ranging from scanning tunneling potentiometry to electrochemical SPM, and addresses the fundamental physical phenomena underlying the SPM imaging mechanism. Volume 2 concentrates on the practical aspects of SPM characterization of a wide range of materials, including semiconductors, ferroelectrics, dielectrics, polymers, carbon nanotubes, and biomolecules, as well as on SPM-based approaches to nanofabrication and nanolithography.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 1040 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9780387286679

Título
Scanning Probe Microscopy
Autor
Alexei Gruverman
Editorial
Springer New York, Copernicus Dez 2006
Año de publicación
2006
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
0387286675
ISBN 13
9780387286679
Peso del artículo
1879 gramos
Dimensiones
241x160x67 mm

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Emtmannsberg, BAYE, Alemania

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