Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Goldstein, Joseph I., Newbury, Dale E., Michael, Joseph R., Ritchie, Nicholas W.M., Scott, John Henry J., Joy, David C.

Editorial: Springer
Condición: LikeNew Encuadernación de tapa dura

Librería: Academic Book Solutions, Medford, NY, Estados Unidos de America

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