Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalys

Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas W.M.; Scott, John Henry J.; Joy, David C.

ISBN 10: 1493982699 ISBN 13: 9781493982691
Editorial: Springer, 2018
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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