SEM, EDAX & AFM study of ZnTe films deposited using SILAR method

Idioma: inglés

Editorial: LAP LAMBERT Academic Publishing Mär 2014, 2014

3659258296 / 9783659258299

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -In present book, AFM has been used to measure surface morphology. For microanalysis the scanning electron microscope (SEM) has been used. The scanning electron microscope (SEM), which is closely related to the electron probe, is designed primarily for producing electron images, but can also be used for elements mapping, and even point analysis.Scanning electron microscopes which are equipped with EDS (Energy Dispersed Spectroscopy) or EDAX (Energy-Dispersed Analysis of X-rays) detectors that capture the emitted X-ray is used for elemental analysis. The results, analysis and conclusions of ZnTe thin films deposited by SILAR method at various thicknesses and annealing temperatures have been carried out in detail and are presented in this book. 64 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9783659258299

Título
SEM, EDAX & AFM study of ZnTe films deposited using SILAR method
Autor
Jignesh Rathod
Editorial
LAP LAMBERT Academic Publishing Mär 2014
Año de publicación
2014
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
3659258296
ISBN 13
9783659258299
Peso del artículo
113 gramos
Dimensiones
220x150x4 mm

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