T�tulo: Rietveld Refinement in the Characterization of Crystalline Materials
Editor: MDPI AG 2019-01-24
Fecha de publicaci�n: 2019
Idioma: Ingl�s
ISBN 10: 3038975273
ISBN 13: 9783038975274
Encuadernaci�n: Paperback
Estado: New

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Sinopsis

This Special Issue serves as a crystallographic forum covering various aspects of material science that have in common the use of the powerful Rietveld method in the analysis of the powder XRD patterns of investigated compounds.

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