Research for Practical Issues and Solutions in Computerized Multistage Testing

Yan, Duanli (Editor)/ Von Davier, Alina (Editor)/ Weiss, David (Editor)

ISBN 10: 036720780X ISBN 13: 9780367207809
Editorial: Routledge, 2024
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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