Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (IEEE Press Series on Microelectronic Systems)

Idioma: inglés

Editorial: WileyBlackwell 2009-09-04, 2009

0471731722 / 9780471731726

Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino UnidoChiron Media

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de IberLibro desde 2 de agosto de 2010

Tapa dura

Condición: Nuevo

EUR 210,82

Envío por EUR 11,85 
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 20 disponibles

Añadir al carrito
Devoluciones gratuitas de 30 días

Descripción del artículo del vendedor

Brand new book, sourced directly from publisher. Dispatch time is 3-4 days from our warehouse. Book will be sent in robust, secure packaging to ensure it reaches you securely.

N° de ref. del artículo 6666-WLY-9780471731726

Título
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (IEEE Press Series on Microelectronic Systems)
Autor
Alvin W. Strong, Ernest Y. Wu, RolfPeter Vollertsen, Giuseppe La Rosa, Jordi Sune, Stewart E. Rauch III, Timothy D. Sullivan
Editorial
WileyBlackwell 2009-09-04
Año de publicación
2009
Estado
New
Encuadernación
Hardcover
Idioma
inglés
ISBN 10
0471731722
ISBN 13
9780471731726

Chiron Media

Wallingford, Reino Unido

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de IberLibro desde 2 de agosto de 2010

Tarifas de envío de Reino Unido a Estados Unidos de America

ArtículoDe 19 a 33 días hábilesDe 19 a 33 días hábiles
Primer artículoEUR 11,85EUR 11,85
Los plazos de entrega los establecen los vendedores y varían según el transportista y la ubicación. Los pedidos que pasan por la aduana pueden sufrir retrasos y los compradores son responsables de los aranceles o tarifas asociadas. Los vendedores pueden ponerse en contacto con usted en relación con cargos adicionales para cubrir cualquier aumento en los costes de envío de los artículos.

Métodos de pago

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay

Información empresarial del vendedor

WRAP Ltd

Unit 4, 119 Loverock Rd
Reading, Reino Unido RG30 1DZ