Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications (Springer Series in Advanced Microelectronics (47))

Libro 52 de 72: Springer Series in Advanced Microelectronics

Franco, Jacopo, Kaczer, Ben, Groeseneken, Guido

ISBN 10: 9400776624 ISBN 13: 9789400776623
Editorial: Springer, 2013
Idioma: Inglés
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